鍍層厚度測量系統(tǒng)方法適用于檢驗(yàn)金屬制品上的銅、鎳、鋅、鎘、錫、銀、銅、錫合金的鍍層厚度。零件上局部鍍層，在一定的壓力和速度的細(xì)流狀試液作用下被溶解，鍍層厚度根據(jù)被檢驗(yàn)部分鍍層溶解完畢所消耗的時(shí)間來計(jì)算。 鍍層溶解完的終點(diǎn)，可由肉眼直接觀察金屬特征顏色的變化或借助終點(diǎn)指示裝置（顯示鍍層完全溶液瞬間電位或電流的變化）來確定。
鍍層厚度測量系統(tǒng)特點(diǎn)：
1根據(jù)測量環(huán)境、測量方式量身定制測量方案，*高線性度1um，*高分辨率0.3um；
2高速在線測量，*高采樣頻率9400Hz；
3多點(diǎn)測量，一臺工控機(jī)可控高達(dá)63個(gè)測厚點(diǎn)；
4閉環(huán)控制，可實(shí)現(xiàn)與現(xiàn)場設(shè)備無縫對接實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場閉環(huán)控制、與現(xiàn)場設(shè)備聯(lián)動(dòng)、報(bào)警等功能，同時(shí)可聯(lián)入ERP系統(tǒng)；
5對被測體材質(zhì)顏色不敏感，顏色變化對測量結(jié)果無影響；
6系統(tǒng)成熟穩(wěn)定基礎(chǔ)算法有較高的可靠性，可根據(jù)具體測量環(huán)境定制新算法滿足特殊要求；
7高效率，節(jié)省人力物力，提高生產(chǎn)品質(zhì)。
鍍層厚度測量系統(tǒng)是薄膜制造業(yè)的基礎(chǔ)檢測項(xiàng)目之一。薄膜其他一些性能指標(biāo)都和厚度有關(guān)。很顯然，倘若一批單層薄膜厚度不均勻，不但會影響到薄膜各處的拉伸強(qiáng)度、阻隔性等，更會影響薄膜的后續(xù)加工。對于復(fù)合薄膜，厚度的均勻性更加重要，只有整體厚度均勻，每一層樹脂的厚度才可能均勻。因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預(yù)設(shè)值一致，厚度偏差是否在指定的范圍內(nèi)， 這些都成為薄膜是否能夠具有某些特性指標(biāo)的前提。
